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二維異常有時(shí)甚至誤導(dǎo)礦化帶的總體走向，這是二維測量的自身特點(diǎn)所決定的。在異常解釋時(shí)，對(duì)此要有充分的認(rèn)識(shí)。
與化探手段不同，多數(shù)物探測量通常涉及探測深度問題，探測深度有理論探測深度和有效探測深度的區(qū)別。比如，磁法測量，其探測深度屬定性概念。對(duì)于厚度小于5米的磁鐵礦礦化體，埋藏大于150米深后，地表的磁異常就很弱了。激發(fā)極化中間梯度法，其AB距的1/2深度為大概的理論探測深度，有效探測深度可能只有AB距的1/5。這樣，當(dāng)AB距等于1000米時(shí)，有效探測深度可能是200米。多數(shù)情況下，現(xiàn)有物探手段反映的是隱伏礦化體頂部的信息，不是隱伏礦化體在探礦空間內(nèi)的全部信息。對(duì)電測深剖面反應(yīng)的深度大于有效探測深度的令人興奮的異常，需要冷靜處置。近年來，西方礦業(yè)界開始強(qiáng)調(diào)加強(qiáng)探測深度，并進(jìn)行三維空間異常測量，以提高在三維空間對(duì)礦化目標(biāo)體的分辨率。
因?yàn)榭辈槭侄伪旧泶嬖诘姆直媛屎陀行綔y深度的問題，局部的低值異常，其找礦意義可能更大。
物化探異常的探礦工程驗(yàn)證
礦致異常的甄別非常重要，最簡單的辦法就是利用已查明礦化信息的地質(zhì)剖面，即與已知礦化體地表相似的所有異常均有可能取得找礦突破。在礦致異常的驗(yàn)證過程中，剖面法是非常有效的手段。在普查階段，如果用鉆孔來解剖勘查靶位時(shí)，同樣需要首先實(shí)施剖面法。先打頭排孔，后打二排孔的潛規(guī)則在詳查和勘探階段是比較適用的，但在普查階段需要首先實(shí)施典型剖面勘查，能解決技術(shù)問題的不見礦的鉆孔也是勘查成果之一。
驗(yàn)證物化探異常的目的就是驗(yàn)證勘查模型，就是確認(rèn)主控礦因素，以判斷礦權(quán)區(qū)內(nèi)的找礦潛力。在此過程中，一方面要加強(qiáng)物探、化探和地質(zhì)技術(shù)人員的相互協(xié)作與啟發(fā)，另一方面要加強(qiáng)對(duì)三維空間礦田構(gòu)造(Structure Geology)的不斷認(rèn)識(shí)，解決關(guān)鍵性問題，防止過分依賴物化探異常的行為。 上一頁 [1] [2] [3] [4] |
