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c） 詳查和勘探：詳查一般開展（1∶5 000）～（1∶2 000）地質(zhì)填圖（精測(cè)），勘探一般開展（1∶2 000）～（1∶1 000）地質(zhì)填圖（精測(cè)），必要時(shí)勘探階段可開展1：500地質(zhì)填圖，所用地形底圖需進(jìn)行地形測(cè)量，精度需符合同比例尺的測(cè)量規(guī)范，對(duì)蝕變礦化體及重要地質(zhì)界線，若遇浮土覆蓋，需按一定的工程間距布設(shè)槽探、井探或淺鉆工程揭露控制，所有地表工程、地質(zhì)點(diǎn)、勘探線剖面均須用儀器法展繪到圖上，對(duì)于薄礦體（層）、標(biāo)志層及其他有特殊意義的地質(zhì)現(xiàn)象，必要時(shí)應(yīng)擴(kuò)大表示。 上一頁 [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] 下一頁 |
